紅外測(cè)溫儀WFHX-68上海自?xún)x三廠

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　　　便攜式紅外溫度計(jì)          

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WFHX-68 產(chǎn)品介紹:      WFHX-68型便攜式紅外溫度計(jì)是一種運(yùn)用微處理技術(shù)、集光、機(jī)、電現(xiàn)代科技于一體的新型非接觸式測(cè)溫儀表。該溫度計(jì)具有測(cè)溫精度高，測(cè)溫范圍寬、性能穩(wěn)定、響應(yīng)靈敏、數(shù)顯直觀，操作簡(jiǎn)便、攜帶輕便、外形美觀等特點(diǎn)，適用于對(duì)通電導(dǎo)體，高頻加熱體、運(yùn)動(dòng)物體、真空或其它控制環(huán)境下物體的溫度檢測(cè)以及測(cè)溫時(shí)溫度場(chǎng)不予破壞的場(chǎng)合。例如檢測(cè)管道、爐壁、滾筒、表面、布面、塑料膜、窯爐、鍛壓、軋制和冶煉等溫度。是冶金、化工、橡膠、紡織、塑料、造紙、食品加工等各種工業(yè)領(lǐng)域進(jìn)行溫度檢測(cè)必不可少的儀表。 規(guī)格參數(shù):      WFHX-68型便攜式紅外溫度計(jì)測(cè)溫精度高，測(cè)溫范圍寬、性能穩(wěn)定、響應(yīng)靈敏、數(shù)顯直觀，操作簡(jiǎn)便、攜帶輕便、外形美觀產(chǎn)品技術(shù)數(shù)據(jù)       WFHX-68型便攜式紅外溫度計(jì)主由光學(xué)系統(tǒng)、探測(cè)器、環(huán)境溫度檢測(cè)器及處理機(jī)系統(tǒng)組成。光學(xué)系統(tǒng)0～800℃采用定焦式單反系統(tǒng)600～1000℃以上量程采用直射透鏡式系統(tǒng)。工作時(shí)分別將檢測(cè)物體的輻射能量后，便輸出電信號(hào)，由前置放大后，按一定的規(guī)律經(jīng)模擬開(kāi)頭，模/數(shù)轉(zhuǎn)換后進(jìn)入微機(jī)系統(tǒng)。經(jīng)微機(jī)處理后，將檢測(cè)物體相應(yīng)的溫度值顯示要數(shù)碼管上。同時(shí)環(huán)境檢測(cè)器、采樣探測(cè)器所處的環(huán)境，經(jīng)前置放大，模擬開(kāi)頭，模/數(shù)轉(zhuǎn)換后進(jìn)入微機(jī)系統(tǒng)，對(duì)探測(cè)器的環(huán)溫影響予以補(bǔ)償。0～800℃采用激光器尋找目標(biāo)，激光所對(duì)的位置即目標(biāo)位置。

     便攜式紅外溫度計(jì)                                         WFHX-68 產(chǎn)品介紹:      WFHX-68型便攜式紅外溫度計(jì)是一種運(yùn)用微處理技術(shù)、集光、機(jī)、電現(xiàn)代科技于一體的新型非接觸式測(cè)溫儀表。該溫度計(jì)具有測(cè)溫精度高，測(cè)溫范圍寬、性能穩(wěn)定、響應(yīng)靈敏、數(shù)顯直觀，操作簡(jiǎn)便、攜帶輕便、外形美觀等特點(diǎn)，適用于對(duì)通電導(dǎo)體，高頻加熱體、運(yùn)動(dòng)物體、真空或其它控制環(huán)境下物體的溫度檢測(cè)以及測(cè)溫時(shí)溫度場(chǎng)不予破壞的場(chǎng)合。例如檢測(cè)管道、爐壁、滾筒、表面、布面、塑料膜、窯爐、鍛壓、軋制和冶煉等溫度。是冶金、化工、橡膠、紡織、塑料、造紙、食品加工等各種工業(yè)領(lǐng)域進(jìn)行溫度檢測(cè)必不可少的儀表。 規(guī)格參數(shù):      WFHX-68型便攜式紅外溫度計(jì)測(cè)溫精度高，測(cè)溫范圍寬、性能穩(wěn)定、響應(yīng)靈敏、數(shù)顯直觀，操作簡(jiǎn)便、攜帶輕便、外形美觀產(chǎn)品技術(shù)數(shù)據(jù)       WFHX-68型便攜式紅外溫度計(jì)主由光學(xué)系統(tǒng)、探測(cè)器、環(huán)境溫度檢測(cè)器及處理機(jī)系統(tǒng)組成。光學(xué)系統(tǒng)0～800℃采用定焦式單反系統(tǒng)600～1000℃以上量程采用直射透鏡式系統(tǒng)。工作時(shí)分別將檢測(cè)物體的輻射能量后，便輸出電信號(hào)，由前置放大后，按一定的規(guī)律經(jīng)模擬開(kāi)頭，模/數(shù)轉(zhuǎn)換后進(jìn)入微機(jī)系統(tǒng)。經(jīng)微機(jī)處理后，將檢測(cè)物體相應(yīng)的溫度值顯示要數(shù)碼管上。同時(shí)環(huán)境檢測(cè)器、采樣探測(cè)器所處的環(huán)境，經(jīng)前置放大，模擬開(kāi)頭，模/數(shù)轉(zhuǎn)換后進(jìn)入微機(jī)系統(tǒng)，對(duì)探測(cè)器的環(huán)溫影響予以補(bǔ)償。0～800℃采用激光器尋找目標(biāo)，激光所對(duì)的位置即目標(biāo)位置。